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大部分辐射测温仪表都只能测量亮度温度、辐射温度或颜色温度等。如欲求得被测物体的真实温度，还必须知道该物体的发射率。而物体的发射率又与很多因素有关，如与物质种类、温度和波长等有关，特别是还与物体的表面伏态(氧化程度、诱蚀程度等)有关。这就给修正发射率的影响造成很大困难。
      在辐射测温中能不能基本上消除发射率的影响?或者说可否在不确切知道发射率数值条件下用辐射测温法直接测得物体的真温度?对这个问题很早以前许多学者就注意到了。例如，把半球内表面镀金的反射器扣在被测物体表面上以提高被测表面的有效发射率，使设置在半球反射器上方的探测器接收近黑体的辐射，从而可测出物体的真温度。